题型:解答题
难度:0.65
引用次数:403
题号:20191390
某质谱仪原理如图,为粒子加速器,加速电压为;B为速度选择器,磁场与电场正交,磁感应强度为,两板间距离为;为偏转分离器,磁感应强度为。今有一质量为电荷量为的正粒子(不计重力及初始速度),经加速后,该粒子恰能沿直线通过速度选择器,粒子进入分离器后做匀速圆周运动。求:
(1)粒子进入速度选择器的速度大小;
(2)速度选择器两板间电压;
(3)粒子在磁场中做匀速圆周运动的半径。
(1)粒子进入速度选择器的速度大小;
(2)速度选择器两板间电压;
(3)粒子在磁场中做匀速圆周运动的半径。
更新时间:2023-10-04 15:46:26
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【推荐1】16世纪末,汤姆孙的学生阿斯顿设计了如图所示的质谱仪。原子质量为39和41的钾的单价离子,先后从容器A下方的小孔S1飘入电势差为U的加速电场,然后经过S3沿着与磁场垂直的方向进入匀强磁场,最后打到照相底片D上。求:
(1)钾39和钾41被电场加速后的速度之比(已知x很小时,)(保留两位小数)。
(2)若加速电压U=200V有的波动,为使钾的这两种同位素谱不发生覆盖,确定的上限。
(1)钾39和钾41被电场加速后的速度之比(已知x很小时,)(保留两位小数)。
(2)若加速电压U=200V有的波动,为使钾的这两种同位素谱不发生覆盖,确定的上限。
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【推荐2】如图为某种质谱仪的工作原理示意图,它是由粒子源M、加速电场、静电分析器和磁分析器组成。静电分析器是半径为R的四分之一圆弧通道,通道内径忽略不计,其内部有方向均指向圆心O的均匀辐向电场(各处电场强度大小可视为相等);磁分析器截面为半径为R的半圆形区域,其内部有垂直纸面向外的匀强磁场,磁感应强度为B,COD为记录胶片。粒子源M发出初速度为零的质量不同、电荷量均为的带电粒子,经加速电压为U的电场加速后射入静电分析器,从C处的通道出口进入磁分析器,最终打在记录胶片上。不计粒子的重力。
(1)试通过计算分析静电分析器中的电场强度为多大时,粒子源M发出的带正电粒子均可以从通道出口C处射出?
(2)求打在胶片OD区域的粒子质量。
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【推荐3】质谱仪是测量带电粒子的质量和分析同位素的重要工具,由速度选择器和磁分析器组成,其原理示意图如图所示。由电荷量均为q、质量不同的三种粒子组成的粒子束以速度v沿图示方向射入速度选择器,该粒子束沿直线穿过底板上的小孔O进入偏转磁场,最终三种粒子分别打在底板MN上的P1、P2、P3三点。已知速度选择器中磁场的磁感应强度大小为B1,磁分析器中磁场的磁感应强度大小为B2,方向均垂直纸面向里,不计粒子的重力及粒子间的相互作用力。
(1)求三种粒子的带电性质及速度选择器中匀强电场的电场强度大小和方向;
(2)如果打在P1、P3两点的粒子的质量差为,求P1、P3两点的间距。
(1)求三种粒子的带电性质及速度选择器中匀强电场的电场强度大小和方向;
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【推荐1】如图所示,M为粒子加速器;N为速度选择器,两平行导体板之间有方向相互垂直的匀强电场和匀强磁场,电场的方向垂直导体板向下,电场强度为E。从S点释放一初速度为0、质量为m、电荷量为q的带正电粒子,经M加速后恰能以速度v沿直线(图中平行于导体板的虚线)通过N。不计重力。
(1)求粒子加速器M的加速电压U;
(2)求速度选择器N两板间的磁感应强度B的大小和方向。
(1)求粒子加速器M的加速电压U;
(2)求速度选择器N两板间的磁感应强度B的大小和方向。
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【推荐2】离子注入是芯片技术中的一道重要工序。如图所示是离子注入工作原理示意图,离子经电场加速后沿水平方向进入速度选择器,然后通过磁分析器,选择出特定比荷的离子,经偏转系统后注入处在水平面内的晶圆片。速度选择器和磁分析器中的匀强磁场的磁感应强度大小均为,方向均垂直纸面向外;速度选择器和偏转系统中的匀强电场场强大小均为,方向分别为竖直向上和垂直纸面向外。磁分析器截面是内外半径分别为和的四分之一圆环,其两端中心位置和处各有一个小孔;偏转系统中电场的分布区域是一边长为的正方体,其底面与晶圆片所在水平面平行。当偏转系统不加电场时,离子恰好竖直注入到晶圆片上的点。整个系统置于真空中,不计离子重力。求:
(1)判断离子的电性和离子通过速度选择器的速度大小;
(2)磁分析器选择出来离子的比荷;
(3)偏转系统加电场时,要求离子从偏转系统底面飞出,若晶圆片所在的水平面是半径为的圆面,为了使偏转粒子能打到晶圆片的水平面上,晶圆片平面到偏转系统底面的距离应满足什么条件?
(1)判断离子的电性和离子通过速度选择器的速度大小;
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【推荐3】如图所示,在用阴极射线管测量阴极射线的比荷时,当给平行金属板a、b加上U的电压后,沿a、b中线OO'以一定速度运动的电子,恰好能从a板的边缘射出并打到荧光屏上。已知a、b的长度为L、两板间距为L,极板与荧光屏的距离也为L,P点是OO'延长线与荧光屏的交点。为了抵消阴极射线的偏转,在a、b间再加上垂直纸面向外,磁感应强度大小为B的匀强磁场,射线恰好打到P点。将a、b间视为匀强电场,不考虑重力的影响。
(1)求阴极射线的比荷。
(2)若撤去电场只保留磁场,荧光屏上是否会出现亮点?若有说明位置,没有说明原因。
(1)求阴极射线的比荷。
(2)若撤去电场只保留磁场,荧光屏上是否会出现亮点?若有说明位置,没有说明原因。
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【推荐1】离子注入是芯片制造中的一道重要工序,简化的注入过程原理如图所示。静止于A处的离子质量为m,电荷量为q经电压为U的电场加速后,沿图中圆弧虚线通过磁分析器,然后从M点垂直CD进入矩形CDQS有界匀强电场中,最后恰好打在Q点。已知磁分析器截面是四分之一圆环,内部为匀强磁场,磁感应强度大小为B,方向垂直纸面向里;匀强电场沿水平方向,,。整个装置处于真空中,离子重力不计。
(1)在图中标出匀强电场的场强方向,并简要说明判断依据;
(2)求离子在此分析器中轨迹的半径R;
(3)求矩形区域内匀强电场场强大小E。
(1)在图中标出匀强电场的场强方向,并简要说明判断依据;
(2)求离子在此分析器中轨迹的半径R;
(3)求矩形区域内匀强电场场强大小E。
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【推荐2】图甲是离子注入系统,它是一种对半导体进行掺杂的方法,可以改变半导体材料的成份和性质。图乙是它的简化示意图,由离子源、加速器、质量分析器、磁偏转室和注入靶组成。初速度近似为0的正离子从离子源飘入加速器,加速后的成为高能离子,离子沿质量分析器的中轴线运动并从F点射出,然后垂直磁偏转室的边界从P点进入,离子在磁偏转室中速度方向偏转90°后垂直边界从Q点射出,最后垂直打到注入靶上。已知质量分析器的C、D两极板电势差为U,板长为L,板间距离为d;磁偏转室的圆心为O,O与P之间的距离为L,内部匀强磁场的磁感应强度为B;正离子的质量为m、电荷量为q,不考虑离子的重力及离子间的相互作用。
(1)求加速器A、B两极板的电势差和质量分析器内磁场的磁感应强度;
(2)若每秒打到注入靶的离子数为,其中90%的离子进入注入靶中,10%的离子被反向弹回,弹回的速度大小为原来的一半,求注入靶受到的作用力大小;
(3)假设质量分析器两极板间电势差发生极小的波动,则离子在质量分析器中不再沿直线运动,但可近似看作是匀变速曲线运动。要使这些离子经磁偏转室后仍能全部会聚到一点,求P点与F点之间的距离。
(1)求加速器A、B两极板的电势差和质量分析器内磁场的磁感应强度;
(2)若每秒打到注入靶的离子数为,其中90%的离子进入注入靶中,10%的离子被反向弹回,弹回的速度大小为原来的一半,求注入靶受到的作用力大小;
(3)假设质量分析器两极板间电势差发生极小的波动,则离子在质量分析器中不再沿直线运动,但可近似看作是匀变速曲线运动。要使这些离子经磁偏转室后仍能全部会聚到一点,求P点与F点之间的距离。
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(0.65)
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【推荐3】利用电磁学原理设计离子喷涂设备,如图1所示,离子从离子源A“漂”出,经加速电压U加速后沿直线进入的匀强磁场,经磁场偏转半个周期后离子打在喷涂区,实现离子喷涂,为了实现平面喷涂,在磁场区域再加上一个垂直于纸面的电场(图中未标出),平面待喷涂件放在直线上,且与磁场平行,离子的质量,电荷量,离子进入加速电场的速度不计,加速电压随时间的周期性变化如图2所示,离子源离子随时间均匀进入电场,粒子在电场及磁场中运动的时间远小于电压的变化周期,不考虑相对论效应及离子间的相互作用,不考虑电场变化产生的磁场,取
(1)如果不加电场,求离子在处喷涂的长度;
(2)电场随时间变化如图3所示(垂直纸面向里为正)求此过程中离子喷涂的面积;
(3)第2问中喷涂区域的离子厚度是否均匀分布,如果是,请说明理由;如果不是,哪一侧厚一些;
(4)若要实现如图4所示的三角形区域的喷涂,随时间变化如图3所示,请在图5中定性地画出加速电压随时间变化的图像。
(1)如果不加电场,求离子在处喷涂的长度;
(2)电场随时间变化如图3所示(垂直纸面向里为正)求此过程中离子喷涂的面积;
(3)第2问中喷涂区域的离子厚度是否均匀分布,如果是,请说明理由;如果不是,哪一侧厚一些;
(4)若要实现如图4所示的三角形区域的喷涂,随时间变化如图3所示,请在图5中定性地画出加速电压随时间变化的图像。
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