1 . 霍尔效应是电磁基本现象之一,近期我国科学家在该领域的实验研究上取得了突破性进展。如图丙所示,在一矩形半导体薄片的P、Q间通入电流I,同时外加与薄片垂直的磁场B,在M、N间出现电压UH,这个现象称为霍尔效应,UH为霍尔电压,且满足UH=k,式中d为薄片的厚度,k为霍尔系数。某同学通过实验来测定该半导体薄片的霍尔系数。
①若该半导体材料是空穴(可视为带正电粒子)导电,电流与磁场方向如图丙所示,该同学用电压表测量UH时,应将电压表的“+”接线柱与___________ (选填“M”或“N”)端通过导线相连。
②已知薄片厚度d=0.40mm,该同学保持磁感应强度B=0.10T不变,改变电流I的大小,测量相应的UH值,记录数据如表所示。
根据表中数据在给定坐标纸上画出UH-I图线___________ ,利用图线求出该材料的霍尔系数为___________ ×10-3V·m·A-1·T-1(保留2位有效数字)。
③该同学查阅资料发现,使半导体薄片中的电流反向再次测量,取两个方向测量的平均值,可以减小霍尔系数的测量误差,为此该同学设计了如图丁所示的测量电路。S1、S2均为单刀双掷开关,虚线框内为半导体薄片(未画出)。为使电流自Q端流入,P端流出,应将S1掷向___________ (选填“a”或“b”),S2掷向___________ (选填“c”或“d”)。
①若该半导体材料是空穴(可视为带正电粒子)导电,电流与磁场方向如图丙所示,该同学用电压表测量UH时,应将电压表的“+”接线柱与
②已知薄片厚度d=0.40mm,该同学保持磁感应强度B=0.10T不变,改变电流I的大小,测量相应的UH值,记录数据如表所示。
I/10-3A | 3.0 | 6.0 | 9.0 | 12.0 | 15.0 | 18.0 |
UH/10-3V | 1.1 | 1.9 | 3.4 | 4.5 | 6.2 | 6.8 |
③该同学查阅资料发现,使半导体薄片中的电流反向再次测量,取两个方向测量的平均值,可以减小霍尔系数的测量误差,为此该同学设计了如图丁所示的测量电路。S1、S2均为单刀双掷开关,虚线框内为半导体薄片(未画出)。为使电流自Q端流入,P端流出,应将S1掷向
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2 . 某学习小组利用砷化镓霍尔元件(载流子为电子)测量磁感应强度B,实验原理如图甲所示,匀强磁场垂直于元件的工作面,工作电源为霍尔元件提供霍尔电流,通过1、3测脚时,2、4测脚间将产生霍尔电压。
(1)2、4测脚中电势低的是________ (选填“2”或“4”)测脚;
(2)利用螺旋测微器测量元件厚度d(如图乙),其读数为________ mm;
(3)某次实验中,调节工作电压,改变霍尔电流,测出霍尔电压,实验数据如下表所示:
坐标纸上已标出前3组数据对应的坐标点,请在坐标纸上标出后2组数据对应的坐标点并画出关系图像;( )
(4)若测得(3)中关系图像的斜率为k,设该元件单位体积中自由电子的个数为n,元件厚度为d,电子电荷量为e,则磁感应强度________ (用k,n,d,e表示)。
(1)2、4测脚中电势低的是
(2)利用螺旋测微器测量元件厚度d(如图乙),其读数为
(3)某次实验中,调节工作电压,改变霍尔电流,测出霍尔电压,实验数据如下表所示:
实验次数 | 1 | 2 | 3 | 4 | 5 |
0.50 | 1.00 | 1.50 | 2.00 | 2.50 | |
41.5 | 83.1 | 124.8 | 166.4 | 208.1 |
坐标纸上已标出前3组数据对应的坐标点,请在坐标纸上标出后2组数据对应的坐标点并画出关系图像;
(4)若测得(3)中关系图像的斜率为k,设该元件单位体积中自由电子的个数为n,元件厚度为d,电子电荷量为e,则磁感应强度
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名校
3 . 某研究性学习小组的同学,为检测某工厂排放污水的情况,制作了一个简易的电磁流量计,如图甲所示。该装置为中空的长方形管道,长、宽、高分别为a=20cm,b=c=10cm,左右两端开口,与排污管道联通。流量计的上下底面为绝缘体,前后两个侧面为导体,并分别固定两个电极M、N。在垂直于底面的方向加一竖直向下的匀强磁场,已知磁感应强度为B=0.8 T。当含有正负离子的污水从左向右流经该装置时,M、N两电极间将产生电势差U。
(1)若使用多用电表的电压挡测量M、N电极间的电势差,则与图甲中M相连的应是多用电表的___________ 色表笔(选填“红”或“黑”)。
(2)某次测量时,使用了多用电表250mV量程的直流电压挡,表盘示数如图乙所示,则M、N电极间的电势差U=_______ mV。
(3)若多用电表使用直流电压挡时,可近似视为理想电压表,则根据(2)中测得的电压值,可估算出污水的速度为___________ m/s(结果保留2位有效数字)。
(1)若使用多用电表的电压挡测量M、N电极间的电势差,则与图甲中M相连的应是多用电表的
(2)某次测量时,使用了多用电表250mV量程的直流电压挡,表盘示数如图乙所示,则M、N电极间的电势差U=
(3)若多用电表使用直流电压挡时,可近似视为理想电压表,则根据(2)中测得的电压值,可估算出污水的速度为
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4 . 霍尔效应是电磁基本现象之一,我国科学家在该领域的实验研究上取得了突破性进展。如图甲所示,在一半导体薄片的P、Q间通入电流I,同时外加与薄片垂直的磁场B,在M、N间出现电压UH,这个现象称为霍尔效应,UH称为霍尔电压,且满足UH=k,式中d为薄片的厚度,k为霍尔系数。某同学欲通过实验来测定该半导体薄片的霍尔系数。
(1)若该半导体材料是空穴(可视为带正电粒子)导电,所加电流与磁场方向如图甲所示,该同学用电压表测量UH时,应将电压表的“+”接线柱与___________ (选填“M”或“N”)端通过导线相连。
(2)已知薄片厚度d=0.40 mm,该同学保持磁感应强度B=0.10 T不变,改变电流I的大小,测量相应的UH值,记录数据如下表所示。
根据表中数据,求出该半导体薄片的霍尔系数为___________ ×10-3 V·m·A-1·T-1(保留2位有效数字)。
(3)该同学查阅资料发现,使半导体薄片中的电流反向再次测量,取两个方向测量的平均值,可以减小霍尔系数的测量误差,为此该同学设计了如图乙所示的测量电路,S1、S2均为单刀双掷开关,虚线框内为半导体薄片(未画出)。为使电流从Q端流入,P端流出,应将S1掷向___________ (选填“a”或“b”),S2掷向___________ (选填“c”或“d”)。
为了保证测量安全,该同学改进了测量电路,将一阻值合适的定值电阻串联在电路中。在保持其他连接不变的情况下,该定值电阻应串联在相邻器件___________ 和___________ (填器件字母代号)之间。
(1)若该半导体材料是空穴(可视为带正电粒子)导电,所加电流与磁场方向如图甲所示,该同学用电压表测量UH时,应将电压表的“+”接线柱与
(2)已知薄片厚度d=0.40 mm,该同学保持磁感应强度B=0.10 T不变,改变电流I的大小,测量相应的UH值,记录数据如下表所示。
I(×10-3 A) | 3.0 | 6.0 | 9.0 | 12.0 | 15.0 | 18.0 |
UH(×10-3 V) | 1.0 | 2.0 | 3.0 | 4.0 | 5.0 | 6.0 |
(3)该同学查阅资料发现,使半导体薄片中的电流反向再次测量,取两个方向测量的平均值,可以减小霍尔系数的测量误差,为此该同学设计了如图乙所示的测量电路,S1、S2均为单刀双掷开关,虚线框内为半导体薄片(未画出)。为使电流从Q端流入,P端流出,应将S1掷向
为了保证测量安全,该同学改进了测量电路,将一阻值合适的定值电阻串联在电路中。在保持其他连接不变的情况下,该定值电阻应串联在相邻器件
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2020-11-06更新
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583次组卷
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4卷引用:2020届山东省淄博市高三下学期3月第一次模拟物理试题
名校
5 . 霍尔元件是一种基于霍尔效应的磁传感器,用它可以检测磁场及其变化,图甲为使用霍尔元件测量通电直导线产生磁场的装置示意图,由于磁芯的作用,霍尔元件所处区域磁场可看做匀强磁场,测量原理如乙图所示,直导线通有垂直纸面向里的电流,霍尔元件前、后、左、右表面有四个接线柱,通过四个接线柱可以把霍尔元件接入电路,所用器材已在图中给出并已经连接好电路。
(1)制造霍尔元件的半导体参与导电的自由电荷带负电,电流从乙图中霍尔元件右侧流入,左侧流出,霍尔元件______ (填“前表面”或“后表面”)电势高;
(2)已知霍尔元件单位体积内自由电荷数为n,每个自由电荷的电荷量为e,霍尔元件的厚度为h。为测量霍尔元件所处区域的磁感应强度B,根据乙图中所给的器材和电路,还必须测量的物理量有______ (写出具体的物理量名称及其符号),计算式B=______ 。
(1)制造霍尔元件的半导体参与导电的自由电荷带负电,电流从乙图中霍尔元件右侧流入,左侧流出,霍尔元件
(2)已知霍尔元件单位体积内自由电荷数为n,每个自由电荷的电荷量为e,霍尔元件的厚度为h。为测量霍尔元件所处区域的磁感应强度B,根据乙图中所给的器材和电路,还必须测量的物理量有
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2020-02-15更新
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740次组卷
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7卷引用:山东省泰安英雄山中学2020-2021学年高二下学期期中物理试题
山东省泰安英雄山中学2020-2021学年高二下学期期中物理试题山东省2023-2024学年高二下学期3月月考物理试题(B卷)湖南省两校联考2019-2020学年高二上学期期末联考物理试题(长沙市一中、湖南师大附中)湖南省长沙市一中、湖南师大附中2019-2020学年高二上学期期末联考物理试题湖南省湖南师范大学附属中学2019-2020学年高二上学期期末考试物理试题2020-2021学年高二物理选择性必修第二册同步单元AB卷(新教材人教版)-选择性必修二整册检测卷(B卷提升篇)(已下线)第04讲 质谱仪与回旋加速器【帮课堂】2021-2022学年高二物理同步精品讲义(人教版2019选择性必修第二册)
6 . 潍坊高铁北站于2018年12月26日正式投入使用,启用前安装电磁设备时,为减少地磁场的影响,技术人员用霍尔元件做成的设备测地磁场B的大小和方向,该设备的示意图如图所示,设备的MN端边沿东西方向、NQ沿南北方向置于水平地面上,通入沿NQ自南向北方向的恒定电流I后,电压表有读数;以MN为轴,缓慢向上抬高PQ端,电压表示数发生变化,当它与地面成85°角时,电压表读数最大为U.若该霍尔元件的载流子M为自由电子,电量为e,单位体积内的自由电子个数为n,MN和PQ两端的截面积均为s,MN=PQ=d.则该处的地磁场B=_____ ;方向_____ ;该元件电势高的一侧是_____ (填“MP”或“NQ”)。
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7 . 霍尔元件可以用来检测磁场及其变化.图甲为使用霍尔元件测量通电直导线产生磁场的装置示意图.由于磁芯的作用,霍尔元件所处区域磁场可看作匀强磁场,直导线通有垂直纸面向里的电流,测量原理如图乙所示,霍尔元件前、后、左、右表面有四个接线柱,通过四个接线柱可以把霍尔元件接入电路,所用器材已在图中给出,部分电路已经连接好.
(1)制造霍尔元件的半导体参与导电的自由电荷带负电,电流从乙图中霍尔元件左侧流入,右侧流出,霍尔元件________ (填“前表面”或“后表面”)电势高;
(2)在图乙中画线连接成实验电路图______________ ;
(3)已知霍尔元件单位体积内自由电荷数为n,每个自由电荷的电荷量为e,霍尔元件的厚度为h,为测量霍尔元件所处区域的磁感应强度B,还必须测量的物理量有________ (写出具体的物理量名称及其符号),计算式B=________ .
(1)制造霍尔元件的半导体参与导电的自由电荷带负电,电流从乙图中霍尔元件左侧流入,右侧流出,霍尔元件
(2)在图乙中画线连接成实验电路图
(3)已知霍尔元件单位体积内自由电荷数为n,每个自由电荷的电荷量为e,霍尔元件的厚度为h,为测量霍尔元件所处区域的磁感应强度B,还必须测量的物理量有
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2016-12-08更新
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558次组卷
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8卷引用:2020届山东省三校高三下学期第一次在线联考物理试题(枣庄三中、高密一中、莱西一中)
名校
8 . 在第三次工业革命的今天,新材料的发现和运用尤为重要.我国某科研机构发现一种新型的半导体材料,目前已经知道这种半导体材料的载流子(参与导电的“带电粒子”)的电荷量的值是e(电子电量的绝对值),但不知道它的电性和载流子的数密度n(单位体积中载流子的数量).为了测定这种材料中的载流子是带正电还是带负电,以及载流子的数密度,科学家把这种材料先加工成一块偏平的六面体样品,这块样品的长、宽和厚度分别为a、b、d(如图中所示).现将这块样品接入电路中,且把靠外的偏平面标记为M,靠里的偏平面标记为N,然后在垂直于大平面的方向加上一个磁感应强度大小为B的匀强磁场.接通电键S,调节可变电阻R.使电路中产生合适的电流.然后用电压表判定M、N两个面的电势高低并测定M、N间的电压(也叫霍耳电压),从而得到这种半导体材料载流子的电性和数密度.
(1)当M的电势比N的电势低时,材料中的载流子带___ 电(填“正”或“负”);
(2)为了测定载流子的数密度n,除题目中已给出的数据外,还需要测定的物理量有(写出物理量的含义并设定相应的符号)_______________________ ;
(3)根据题设条件和你测定的物理量,写出载流子的数密度的表达式__________ .
(1)当M的电势比N的电势低时,材料中的载流子带
(2)为了测定载流子的数密度n,除题目中已给出的数据外,还需要测定的物理量有(写出物理量的含义并设定相应的符号)
(3)根据题设条件和你测定的物理量,写出载流子的数密度的表达式
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2016-12-08更新
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1224次组卷
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3卷引用:山东省潍坊第一中学2021-2022学年高二下学期3月月考物理试题
9 . 霍尔效应是电磁基本现象之一,近期我国科学家在该领域的实验研究上取得了突破性进展。如图丙所示,在一矩形半导体薄片的P、Q间通入电流I,同时外加与薄片垂直的磁场B,在M、N间出现电压UH,这个现象称为霍尔效应,UH称为霍尔电压,且满足,式中d为薄片的厚度,k为霍尔系数。某同学通过实验来测定该半导体薄片的霍尔系数。(1)若该半导体材料是空穴(可视为带正电粒子)导电,电流与磁场方向如图丙所示,该同学用电压表测量UH时,应将电压表的“+”接线柱与_________ (填“M”或“N”)端通过导线相连;
(2)已知薄片厚度d=0.40mm,该同学保持磁感应强度B=0.10T不变,改变电流I的大小,测量相应的UH值,记录数据如下表所示:
根据表中数据在坐标系中画出UH-I图线_______________ ,利用图线求出该材料的霍尔系数为_______________ (保留2位有效数字);
(3)该同学查阅资料发现,使半导体薄片中的电流反向再次测量,取两个方向测量的平均值,可以减小霍尔系数的测量误差,为此该同学设计了如图丁所示的测量电路,S1、S2均为单刀双掷开关,虚线框内为半导体薄片(未画出)。为使电流从Q端流入,P端流出,应将S1掷向_______ (填“a”或“b”),S2掷向_______ (填“c”或“d”);为了保证测量安全,该同学改进了测量电路,将一合适的定值电阻串联在电路中,在保持其他连接不变的情况下,该定值电阻应串联在相邻器件____________ 和__________ (填器件代号)之间。
(2)已知薄片厚度d=0.40mm,该同学保持磁感应强度B=0.10T不变,改变电流I的大小,测量相应的UH值,记录数据如下表所示:
I(×10-3A) | 3.0 | 6.0 | 9.0 | 12.0 | 15.0 | 18.0 |
UH(×10-3V) | 1.1 | 1.9 | 3.4 | 4.5 | 6.2 | 6.8 |
(3)该同学查阅资料发现,使半导体薄片中的电流反向再次测量,取两个方向测量的平均值,可以减小霍尔系数的测量误差,为此该同学设计了如图丁所示的测量电路,S1、S2均为单刀双掷开关,虚线框内为半导体薄片(未画出)。为使电流从Q端流入,P端流出,应将S1掷向
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1783次组卷
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2卷引用:2013年全国普通高等学校招生统一考试理科综合能力测试物理(山东卷)