组卷网 > 高中物理综合库 > 电磁学 > 磁场 > 带电粒子在复合场中的运动 > 质谱仪 > 基于加速电场的质谱仪
题型:解答题 难度:0.4 引用次数:570 题号:22694114
质谱仪是分析研究同位素的重要仪器。如图甲为某质谱仪的截面图,速度很小的带电粒子从O点进入电压为的加速电场,加速后经狭缝进入磁感应强度为的速度选择器,沿直线运动从狭缝S垂直直线边界MN进入磁分析器,速度与磁感应强度为的匀强磁场垂直,经偏转最终打在照相底片上。粒子质量为m、电荷量为q。不计粒子重力。求:
(1)速度选择器中匀强电场的场强大小E
(2)是互为同位素的原子核,若保持不变,改变E,原子核沿直线通过速度选择器,最终打到照相底片的位置到狭缝S的距离之比为k,则的质量之比
(3)某次实验,由于加速电场和速度选择器场强出现微小波动,并考虑狭缝S有一定的宽度且为d,使得粒子从S射出时速度大小在,方向与边界MN垂直线间的夹角范围为,如图乙所示,则粒子打在照相底片上沿MN方向的宽度为多少?

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解答题 | 较难 (0.4)
【推荐1】如图所示,一种新型质谱仪原理图,离子源S中飘出初速度为零的离子,经间的电场加速后,沿轴线进入图中虚线所示的圆形匀强磁场区域。圆形匀强磁场半径为,磁场区域的右下部分圆周边界处安装有接收底片P的正下方,同在轴线上。一个质量为的一价正离子从离子源飘入电场,最后恰好打在点。已知元电荷为e间电压为,离子重力忽略不计。
(1)求圆形区域中磁感应强度的大小;
(2)因放置失误,导致磁场区域整体向下移动,使磁场区域圆心偏离轴线,求此情况下氢离子打在底片上的位置。(用该位置到点的连线与轴线所成的角度表示);
(3)若在离子源中放入质量为的一价正离子,的电压波动范围为,若要这两种离子在底片上的位置不重叠时,应满足的条件。
   
2023-06-21更新 | 426次组卷
解答题 | 较难 (0.4)
【推荐2】一种质谱仪的结构可简化为如图所示,粒子源释放出初速度可忽略不计的,粒子经直线加速器加速后由通道入口的中缝MN进入磁场区。该通道的上下表面是内半径为R、外半径为3R的半圆环。该通道置于竖直向上的匀强磁场中,正对着通道出口处放置一块照相底片,能记录粒子从出口射出时的位置。当直线加速器的加速电压为U0沿左侧通道中心线MN射入磁场区,且恰好能击中照相底片的正中间位置,已知比荷为,则
(1)匀强磁场的磁感应强度B
(2)照相底片上所击中位置间的距离;
(3)考虑加速电压有波动,在(U0U)到(U0U)之间变化,若要在底片上没有重叠区域,求ΔU满足的条件。
2022-04-21更新 | 630次组卷
解答题 | 较难 (0.4)
【推荐3】有一种“双聚焦分析器”质谱仪,工作原理如图所示。加速电场的电压为U,静电分析器中有会聚电场,即与圆心O1等距各点的电场强度大小相同,方向沿径向指向圆心O1,磁分析器中以O2为圆心、圆心角为90°的扇形区域内,分布着方向垂直于纸面向外的匀强磁场,其左边界与静电分析器的右边界平行。由离子源发出一个质量为m、电荷量为q的正离子(初速度为零, 重力不计);经加速电场加速后,从M点沿垂直于该点的电场方向进入静电分析器,在静电分析器中,离子沿半径为R的四分之一圆弧轨道做匀速圆周运动,并从N点射出静电分析器。而后离子由P点沿着既垂直于磁分析器的左边界,又垂直于磁场方向射入磁分析器中,最后离子沿垂直于磁分析器下边界的方向从Q点射出,并进入收集器,测量出Q点与圆心O2的距离为d。(题中的UmqRd都为已知量)
(1)求静电分析器中离子运动轨迹处电场强度E的大小;
(2)求磁分析器中磁感应强度B的大小;
(3)现将离子换成质量为2m ,电荷量为0.5q的另一种正离子,其它条件不变。磁分析器空间足够大,离子不会从圆弧边界射出,求:该离子进入磁分析器的位置P以及离开磁分析器的位置QO2的距离。
2023-01-05更新 | 643次组卷
共计 平均难度:一般