1 . 下列相关微粒的说法正确的是

A．H2O的电子式：	B．中子数为20的氯原子：
C．Na+的结构示意图：	D．的空间构型为平面三角形

4 . 下列微粒的VSEPR模型、空间结构、中心原子杂化方式依次为正四面体形、V形、杂化的是

A．、、	B．、、
C．、、	D．、、

5 . 由原子序数依次增大的短周期元素X、Y、Z、W、R组成的一种离子液体(其阳离子中五元环上5个原子共面)，其结构如图。Z的最简单氢化物易液化，可用作制冷剂。W的氢化物的水溶液能腐蚀玻璃，Z、R为同一主族元素。下列说法错误的是

A．电负性：W>Z>Y

B．该离子液体中的Z原子的杂化方式均为sp2

C．空间结构为正八面体形

D．最简单氢化物的沸点：Z<R

6 . 氢元素有氕(H)、氘(D)、氚(T)三种核素，N_A为阿伏加德罗常数的值。下列说法正确的是

A．标准状况下，2.24LT2含有的中子数为0.4NA

B．1gD2O中，中心原子上的孤电子对数为0.2 NA

C．1L0.1mol/LFeCl3溶液中含有的Fe3+数为0.1NA

D．电解水(H2O)生成0.2gH2，外电路通过的电子数为0.1NA

7 . 钠、镁、铝、铜及其化合物在生活中具有重要作用。回答下列问题：
(1)基态的价层轨道表示式为________。
(2)Na、Mg、Al的第一电离能从小到大的顺序为_______(填元素符号)。
(3)铝离子电池一般采用离子液体作为电解质，某含铝离子液体的结构如图：

该化合物中阴离子的空间构型为_______；传统的有机溶剂大多易挥发，而离子液体相对难挥发，原因是________。
(4)几种氧化物的化学键中离子键成分的百分数和氧化物的熔点如下表：

氧化物		MgO
离子键的百分数/%	62	50	41
熔点/℃	1132	2852	2054

离子键成分的百分数：MgO高于，其原因是_______。
(5)氮、铜形成的某一种化合物，为立方晶系晶体，晶胞中氮原子只有一种位置，沿体对角线投影如图甲所示。

其中与N原子等距且最近的Cu原子有___个，请在图乙中画出该晶胞的结构示意图____(○为N，●为Cu)已知晶胞中最近的两个Cu原子间距离为a pm，则晶体的密度为_____(用含a、的代数式表示)。

8 . 下列对物质性质及解释均正确的是

选项	性质	解释
A	熔点：Li<Na<K	K+的价电子数多，金属键最强
B	熔点：晶体硅<碳化硅	碳化硅中分子间作用力较大
C	酸性：	电负性：F>Cl，导致羧基中羟基的极性更大
D	H2O的键角比H3O+的键角大	中心原子的孤电子对数目H2O>H3O+

A．A

B．B

C．C

D．D

9 . 氢氟酸是常见的刻蚀剂，刻蚀玻璃时发生的反应为，下列有关说法错误的是

A．的电离方程式为	B．的模型为
C．的电子式为	D．的空间填充模型为

10 . 下列化学用语表达正确的是

A．的结构示意图：

B．基态的价电子排布图：

C．用系统命名法命名：3-甲基丁酸

D．的VSEPR模型：