1 . 设随机变量服从正态分布,随机变量服从正态分布,下列判断正确的是( )
A. | B. |
C.存在,满足 | D.存在,满足 |
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2021-05-20更新
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1014次组卷
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6卷引用:海南省2021届高三五模数学试题
海南省2021届高三五模数学试题(已下线)7.5正态分布A卷人教A版(2019) 选修第三册 过关斩将 第七章 本章复习提升江苏省南通市海安市实验中学2021-2022学年高二下学期期中数学试题(已下线)考点26 概率、二项分布与正态分布-2-(核心考点讲与练)-2023年高考数学一轮复习核心考点讲与练(新高考专用)2023版 湘教版(2019) 选修第二册 过关斩将 第3章 本章复习提升
解题方法
2 . 随机变量X服从正态分布,有下列四个命题:
①;②;
③;④.
若只有一个假命题,则该假命题是( )
①;②;
③;④.
若只有一个假命题,则该假命题是( )
A.① | B.② | C.③ | D.④ |
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3 . 下列说法中正确的是( )
①不等式的解集是;
②命题“,”的否定是“,”;
③已知随机变量服从正态分布且,则.
①不等式的解集是;
②命题“,”的否定是“,”;
③已知随机变量服从正态分布且,则.
A.②③ | B.①② | C.③④ | D.①②③ |
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4 . 下列说法正确的有______ (填正确命题的序号)
①若函数在处导数不存在,则的函数图像在处无切线.
②若为离散型随机变量,则所有的取值构成的集合可能是无限数集.
③在对数据的相关性分析(回归分析)中,相关系数越大,两个变量的相关性越强.
④正态分布的密度曲线与轴所围成的区域的面积为1.
①若函数在处导数不存在,则的函数图像在处无切线.
②若为离散型随机变量,则所有的取值构成的集合可能是无限数集.
③在对数据的相关性分析(回归分析)中,相关系数越大,两个变量的相关性越强.
④正态分布的密度曲线与轴所围成的区域的面积为1.
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5 . 《中华人民共和国国民经济和社会发展第十四个五年规划和2023年远景目标纲要》指出:要加强原创性、引领性科技攻关,坚决打赢关键核心技术攻坚战.某企业集中科研骨干力量,攻克系列关键技术,已成功实现离子注入机全谱系产品国产化,工艺段覆盖至,为我国芯片制造产业链补上重要一环.该企业使用新技术对某款芯片制造工艺进行改进.
(1)该款芯片生产有四道工序,前三道工序的生产互不影响,第四道是检测评估工序,包括智能自动检测与人工抽检.已知该款芯片在改进生产工艺前,前三道工序的次品率分别为.
①求改进生产工艺前,该款芯片的次品率;
②在第四道工序中,部分芯片由智能检测系统进行筛选,其中部分次品芯片会被淘汰,筛选后的芯片及未经筛选的芯片进入流水线由工人进行抽样检验.记表示事件“某芯片经过智能检测系统筛选”,表示事件“某芯片经人工抽检后合格”,求证:;
(2)改进生产工艺后,该款芯片的某项质量指标服从正态分布,现从中随机抽取个,这个芯片中恰有个的质量指标位于区间.
①若,以使得的最大值作为的估计值,求;
②记这个芯片的质量指标的标准差为,其中个芯片的质量指标的平均数为,标准差为,剩余芯片的质量指标的平均数为,标准差为,试写出的计算式.
参考数据:.
(1)该款芯片生产有四道工序,前三道工序的生产互不影响,第四道是检测评估工序,包括智能自动检测与人工抽检.已知该款芯片在改进生产工艺前,前三道工序的次品率分别为.
①求改进生产工艺前,该款芯片的次品率;
②在第四道工序中,部分芯片由智能检测系统进行筛选,其中部分次品芯片会被淘汰,筛选后的芯片及未经筛选的芯片进入流水线由工人进行抽样检验.记表示事件“某芯片经过智能检测系统筛选”,表示事件“某芯片经人工抽检后合格”,求证:;
(2)改进生产工艺后,该款芯片的某项质量指标服从正态分布,现从中随机抽取个,这个芯片中恰有个的质量指标位于区间.
①若,以使得的最大值作为的估计值,求;
②记这个芯片的质量指标的标准差为,其中个芯片的质量指标的平均数为,标准差为,剩余芯片的质量指标的平均数为,标准差为,试写出的计算式.
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